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离子注入工艺设计与计算简介

在介绍该过程之前,让我们先谈谈昨天一位朋友提到的Nisshin离子注入设备。日本Nisshin是世界三大离子注入设备制造商之一。 1973年,该公司开始制造离子注入工艺设备。上表显示了当前的主要业务设备。您可以访问其主页以获取详细信息。它专注于激光领域中使用的一台设备:它主要用于H离子注入,可以达到400KeV的H +离子注入。主页:http://www.nissin-ion.co.jp/en/sitemap.html 2016年,日清离子机有限公司与扬州经济技术开发区签署了合作协议。日新株式会社将投资在扬州经济技术开发区建设一个离子注入机设备生产厂。离子注入工艺参数00离子注入类似于上图,将离子粉碎到晶圆中。它涉及强度,数量,角度,穿透深度等。也许当您查看喷油器设备的规格时,您会注意到在讨论能量范围时,KeV表示这是一次充电。我们知道,扩散源是以原子的形式注入等离子体产生室的,其核外电子被电离并迁移掉。一些原子被一个电子,两个或什至三个电子离子化。电离产生的电阻越大,所需的容量就越大。因此,在一锅血浆中,单价离子最多。普通的离子注入机具有充电的能力。每个人都可以想象的原理是高中的库仑力。电荷不同,在电磁场中获得的动量也不同。设备可以选择植入过程所需的化合价离子。如果单电荷可以达到400KeV的能量,则相应的3+离子可以达到1200KeV,可以直接相乘。离子注入的关键过程是如何控制掺杂剂量和注入深度。例如,在上图中,将As注入到Si晶格中。 As离子进入硅后,它们将继续与硅原子碰撞,逐渐失去能量,最后停止。停止位置是随机的,并且大多数不在晶格上的位置都没有电活动。 1963年,Lindhard,Scharff和Schiott首次建立了靶中植入离子分布的理论。简称LSS理论。 LSS理论是要讨论离子如何在靶内部停止,具体取决于靶的核或核外电子。给他们起另一个名字叫“停止能力”。 https://wenku.baidu.com/view/5935cde8970590c69ec3d5bbfd0a79563c1ed43c.html更详细的知识可以在库文件中找到。如果我们仅知道所需的掺杂剂量和离子能量,则如何计算目标中注入离子的浓度和深度。例如,在150mm的6英寸硅晶片上注入140KeV B +离子,注入剂量Q = 5 * 1014 / cm2,衬底浓度2 * 1016 / cm3。估计注入离子的投影范围,标准偏差,峰浓度和结深。如果注入时间为1分钟,请估计所需的电子束电流。另外,当注入到其他衬底材料中时,如果将相同的离子与单晶硅比较,则晶格常数越大,则越容易注入,而晶格常数越小,则越难以注入。就像把沙子扔进蛋篮一样。间隙越大,插入越容易。但是,具有不同注入能力的离子注入设备的价格也相差很大。例如,第三代半导体的成本为数千瓦,并且一种设备也占据着面积为数十平方米的房间。这确实是一只烧钱的母鸡。 ,我只是不知道我能否生下金蛋。