由于其高分辨率和采样率，SAR ADC受到了许多工业和汽车客户的青睐。然而，由于其特殊的特性，SAR ADC还提出了许多“特殊要求”。用于外围电路。首先是需要抗混叠电路。例如，当电路中SAR ADC的采样率为fs时，根据Shannon的采样定律，输入信号的频率必须小于fs / 2，而频率超过fs /图2将被“混合”到图2中。通过混叠效应进入有用的信号频带，并且无法区分。因此，为了避免混叠问题，大多数SAR ADC电路需要在前端设计一个专用的多级有源滤波器，以滤除频率超过fs / 2的信号。 （注：Σ-ΔADC理论上也需要一个抗混叠滤波器，但是由于其过采样特性和内部数字滤波器的带外衰减特性，在大多数情况下其抗混叠滤波器的设计要求要低得多情况下一阶RC电路可以满足抗混叠要求。）接下来是模拟输入和参考输入的驱动问题。与大学教科书中提到的不同，现在市场上大多数流行的SAR ADC不再使用分压电阻器网络来实现电压的逐次逼近。由于CMOS技术的普及，它被内部电容器网络代替以实现充电。逐次逼近，以便ADC的信号输入端和参考输入端都通过一个电容器采样，该电容器通常为几皮法拉至几十皮法拉。这带来了两个新问题：1.我们能否在短时间内将电容器完全充电？ 2.该电容器在采样时是否会瞬时拉低我们的信号。 （有关特定SARADC驱动器设计的信息，请参考SLAA571A：SARADC驱动器电路的设计挑战和改进技术）。不良的驱动设计将导致输入信号和参考信号都被瞬时下拉，并导致采样错误，如下图所示：因此，标准SAR ADC驱动电路需要参考和驱动电路，抗混叠滤波器，输入驱动电路等三部分组成，电路结构如下：除上述两个关键问题外，SAR ADC采样电路经常需要配备电压基准，模拟开关，输入放大和直流偏置电路（交流信号不能直接地（通过单电源ADC采样）等，复杂的系统设计经常使工程师望而却步，针对这一问题，TI开发了一系列完全集成的SAR ADC，这些ADC集成了高阻抗输入可编程放大器，混叠滤波器，ADC驱动电路，模拟开关和高精度基准电压源等，它们可以在单个电源环境中提供可编程输入范围，例如±10V /±5V /±2.5V。高度集成的设计使该ADC更像一个集电器，大大简化了采样电路的设计。同时，TI为许多工业客户提供了极具竞争力的价格供其选择。其结构框图如下：该完全集成的ADC大大简化了电路设计，同时优化了成本。对于这种完全集成的ADC，TI提供了多种型号，涵盖了不同的分辨率，不同的通道，同步/异步以及其他器件。下表列出了完整系列的高度集成的SAR ADC，以及相应的信息和参考设计TI-Design。欢迎工程师点击查看。注意：大多数TI设备将具有参考设计，我们称为TI-Design。每个TI设计都包含参考手册，原理图，PCB，软件代码，测试结果和BOM表。用户可以在TI的官方网站上免费下载。